音频(三)——ADC 性能测试
ADC 性能测试
背景
MCU 上的 I2S 引脚并未引出，但是需要测试性能
测试流程
测试数据通路
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AP sine wave -> ADC -> CODEC -> CODEC I2S SDATAO -> MCU I2S SDATAI -> SRAM -> USB 声卡 -> AP
loopback 测试
测试配置
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输出通道选择模拟差分通道 输入通道选择 loopback 滤波一般 high pass 为 20Hz， low pass 为 20kHz，A-wt 生成 Frequency 为 1kHz 的正弦波
测试波形
测试 FFT
声卡测试
测试配置
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输出通道选择模拟差分通道 输入通道选择 ASIO 下的 MCU USB 枚举出来的声卡设备 滤波一般 high pass 为 20Hz， low pass 为 20kHz，A-wt 生成 Frequency 为 1kHz 的正弦波
测试波形
测试 FFT
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Scope FFT RMS Level THD+N SNR Frequency Frequency sweep Signal Analyzer
注意事项
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模拟量会出现衰减，所以 ADC -> CODEC 是模拟量，CODEC 出来之后应该直接测试，不能再到 DAC 注意区分差分(Balanced)还是单端(Unbalanced) 注意输出信号的 RMS 幅值 AP 仪器差分线的两个信号线是分开的，单端线的两个信号线是接在一起的，所以在测试单端信号的时候需要注意被测试信号的单端信号是如何连接的(有点板子单端线是连在一起的，有的板子则是其中一个接地一个接信号线)
